Puun rakenteen ja kasvun mittauksia
Yliopistolla on monipuolinen laitekokonaisuus puun rakenteellisten ominaisuuksien ja vuosikasvun määrittämiseen. Laitteilla voidaan mitata mm. puun vuosirenkaiden (lustojen) paksuus ja määrä, puun lehtien tai neulasten kokotietoja, puukappaleen tiheys poikkileikkausnäytteestä joko profiilina tai keskiarvona tai puun kuituominaisuuksia käyttäen paperiteollisuuden Tappi ja ISO -standardeja. Voimme myös valmistaa mikroskopiaa varten ohutleikkeitä, toteuttaa näille kontrastia parantavia värjäyksiä ja tarkastella puun ja sen solujen anatomisia rakenteita mikroskooppien avulla. Myös vanhojen puunäytteiden ajoittaminen onnistuu.
Keskeiset laitteet ja ohjelmistot
Epson Expression 1640 XL tarkkuusskanneri sekä WinDendro 6.5, WinNeedle 4.3 ja WinFolia 4.0 ohjelmistot
ITRAX X-ray mikrodensitometri
Mikrotomi
Leica Mikroskooppi ja XXX-ohjelmisto
Lustomikroskooppi
L&W Fiber tester
Hinta
Kysy tarjous!
Yhteyshenkilö
Laboratorioteknikko Maini Mononen
maini.mononen[at]uef.fi
Puh. 0503655939
Itä-Suomen yliopisto, Metsätieteiden osasto
Yliopistokatu 7, 80100 Joensuu