Puun rakenteen ja kasvun mittauksia

Puun rakenteen ja kasvun mittauksia

Yliopistolla on monipuolinen laitekokonaisuus puun rakenteellisten ominaisuuksien ja vuosikasvun määrittämiseen. Laitteilla voidaan mitata mm. puun vuosirenkaiden (lustojen) paksuus ja määrä, puun lehtien tai neulasten kokotietoja, puukappaleen tiheys poikkileikkausnäytteestä joko profiilina tai keskiarvona tai puun kuituominaisuuksia käyttäen paperiteollisuuden Tappi ja ISO -standardeja. Voimme myös valmistaa mikroskopiaa varten ohutleikkeitä, toteuttaa näille kontrastia parantavia värjäyksiä ja tarkastella puun ja sen solujen anatomisia rakenteita mikroskooppien avulla. Myös vanhojen puunäytteiden ajoittaminen onnistuu.

Keskeiset laitteet ja ohjelmistot

Epson Expression 1640 XL tarkkuusskanneri sekä WinDendro 6.5, WinNeedle 4.3 ja WinFolia 4.0 ohjelmistot

ITRAX X-ray mikrodensitometri

Mikrotomi

Leica Mikroskooppi ja XXX-ohjelmisto

Lustomikroskooppi

L&W Fiber tester

Hinta

Kysy tarjous!

Yhteyshenkilö

Laboratorioteknikko Maini Mononen
maini.mononen[at]uef.fi
Puh. 0503655939
Itä-Suomen yliopisto, Metsätieteiden osasto
Yliopistokatu 7, 80100 Joensuu