SEM

Pyyhkäisyelektronimikroskooppi (FE-SEM) ja energia dispersiivinen röntgenspektroskopia (EDS)

Korkean erotuskyvyn pyyhkäisyelektronimikroskoopilla voidaan tarkastella materiaalien rakenteita nanometrien tarkkuudella ja mikroskooppiin liitetyllä EDS-detektorilla kartoittaa tutkittavan pinnan alkuainekoostumus. Kyseessä on ns. kuiva vakuumi systeemi eli tutkittavien näytteiden on oltava stabiileja vakuumiolosuhteissa (ei haihtuvia yhdisteitä). Esimerkkejä tutkimuksesta: pintarakenteiden, nanopartikkeleiden ja kerrospaksuuksien määritykset, komposiittimateriaalien ja jauhemaisten näytteiden koostumuksen tutkimukset, näytteiden sisältämien epäpuhtauksien tutkimukset.

 

Hitachi S-4800 Scanning electron microscope

Noran System Six (Thermo Electron Corporation) EDS -detektori

 

  • resoluutio parhaimmillaan 1.0 nm (15kV)
  • suurennus: x20 – x800,000
  • kiihdytysjännite: 0.5 – 30 kV
  • detektorit: (ylempi SE, alempi SE (+BSE), YAG BSE, STEM (bright field ja dark field), EDS)

 

Yhteyshenkilö

Yli-insinööri Sari Suvanto
sari.suvanto[at]uef.fi
puh. 050 307 5320
Itä-Suomen yliopisto, Kemian laitos

Yliopistokatu 7, 80130 Joensuu