Elektronimikroskooppi

Elektronimikroskooppi

Elektronimikroskooppi mahdollistaa nanometrien suuruusluokkaa olevien pinnan yksityiskohtien kuvaamisen.

 

LEO 1550

  • Elektronisäteen jännite 200 V – 30 kV
  • Resoluutio 1 nm (20 kV)
  • Suurennus 20 x – 900.000 x
  • Suurin näytekoko 152 mm x 152 mm

Yhteyshenkilö

Yli-insinööri Pertti Pääkkönen
pertti.paakkonen@uef.fi
0505056376
Itä-Suomen yliopisto, Yliopistokatu 7, 80100 Joensuu